一、測(cè)試程序的基本概念 測(cè)試程序,即被ATE(Automatic Test Equipment,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)識(shí)別和執(zhí)行的指令集,是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程序的主要功能是指引ATE在測(cè)試中如何與被測(cè)器件(DUT)交互,具體包括如何對(duì)DUT施加不同的輸入激勵(lì),如何測(cè)量其響應(yīng)信號(hào),以及將測(cè)量結(jié)果與設(shè)定的門(mén)限值(Li……