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發(fā)布時間:2024-10-23作者來源:薩科微瀏覽:997
探針卡(Probe Card)在集成電路測試中起著至關重要的作用,尤其在晶圓測試(wafer test)環(huán)節(jié),探針卡作為連接ATE測試機臺和半導體晶圓之間的接口,確保了在芯片封裝前對其電學性能進行初步測量和篩選。
1. 什么是探針卡?
探針卡可以形象地比作“醫(yī)生的聽診器”,幫助工程師“聽到”芯片的“心跳”。在芯片封裝之前,工程師需要確認每個芯片是否正常工作,確保只有合格的芯片進入下一步封裝流程。由于芯片極小,探針卡上的探針就像精密的“探頭”,它們與晶圓表面的焊墊(pad)或凸塊(bump)接觸,傳遞測試信號到ATE(自動測試設備),幫助判斷芯片電性能的好壞。
2. 探針卡的結構與組成
探針卡的結構類似于一塊定制的電路板(PCB),它由探針(probe)和其他功能部件組成。探針是探針卡的核心部件,負責實際與晶圓接觸,PCB則作為載體,承載探針和其他元件,并實現(xiàn)信號傳遞。根據(jù)測試要求,探針卡還可以包含其他元件,例如補強板(stiffener)以增強其穩(wěn)定性。
主要組成部分:
探針(Probe):負責與芯片表面焊墊接觸,將電信號傳遞給ATE設備。探針的材料多樣,常見的包括鎢、鈹銅等,每種材料都有其特殊的電學、機械性能。
PCB(Printed Circuit Board):電路板是探針卡的重要組成部分,它連接了探針與測試設備,確保測試信號的有效傳遞。
補強板(Stiffener):提高探針卡的機械強度,避免因操作或使用中的彎曲導致探針無法精確接觸。
3. 探針卡的分類
根據(jù)結構和技術,探針卡可以分為以下幾種類型:
3.1 懸臂式探針卡(Cantilever Probe Card)
懸臂式探針卡可以想象成“吊橋”。
它的探針呈懸臂狀伸向晶圓,與晶圓表面接觸。這類探針卡成本較低,探針相對較粗,通常用于傳統(tǒng)模擬芯片、邏輯芯片等需要較大焊墊或凸塊的芯片。然而,它的探針直徑較大,針痕也較深,晶圓上的焊墊在多次接觸后容易受損。
3.2 垂直式探針卡(Vertical Probe Card)
垂直式探針卡則可以比作“電梯”,探針垂直排列,與晶圓表面垂直接觸。這種結構可以容納更多針腳,適用于焊墊或凸塊較小的高端芯片,如手機處理器、GPU等。這類探針卡的針痕較淺,適合反復多次測試,且探針之間的間距可以做到非常小。
3.3 MEMS探針卡(MEMS Probe Card)
MEMS探針卡采用微機電系統(tǒng)技術(Micro-Electrical-Mechanical Systems, MEMS),將探針做到極為精細,適合非常小間距、高針數(shù)的測試需求。MEMS探針卡具有高度的自動化和一致性,常用于[敏感詞]的半導體工藝,例如7nm、5nm的高端處理器或GPU芯片。它像是“微型手術刀”,精度極高,能夠在微米級別的空間內進行探針排布。
4. 探針卡的應用與挑戰(zhàn)
探針卡作為CP(chip probing)測試中不可或缺的設備,主要用于晶圓測試環(huán)節(jié),幫助在封裝前篩選出不良芯片。每一款探針卡都是針對特定芯片的定制化產品,不具備通用性。因此,盡管一個芯片的年產量可能達到百萬片,但探針卡的需求量通常相對較少。
在實際應用中,探針卡的設計與選擇對測試精度、效率、成本都有很大影響。探針的壽命和穩(wěn)定性、與晶圓的接觸質量、探針痕跡的大小、探針之間的間距等,都是需要考慮的關鍵因素。比如在高針數(shù)、短針距的測試場景下,垂直探針卡和MEMS探針卡的優(yōu)勢顯著,而對于成本敏感、測試要求不高的場景,懸臂探針卡則是一個經濟實惠的選擇。
5. 探針卡的存儲與維護
探針卡非常精密,使用和存儲中需要小心維護。探針卡通常在出廠時真空包裝,避免空氣中的濕度和雜質對探針產生影響。閑置的探針卡應存放在濕度控制良好的環(huán)境中,例如氮氣柜,保持濕度在25%左右,以延長其使用壽命。
6. 探針卡的未來趨勢:MEMS技術的崛起
隨著半導體工藝的不斷進步,芯片的尺寸越來越小,焊墊間距也隨之減小。這對探針卡提出了更高的要求。MEMS探針卡憑借其極細的探針直徑、高度的一致性和穩(wěn)定性,正在成為未來高端探針卡的主流。與傳統(tǒng)懸臂探針卡不同,MEMS探針卡能夠支持更多針腳、細間距測試,并減少探針對晶圓的損傷。隨著5G、AI、物聯(lián)網(wǎng)等新興技術的發(fā)展,MEMS探針卡的需求將越來越大。
7. 國內外探針卡市場
目前,全球探針卡市場由幾大公司主導,F(xiàn)ormFactor(美國)、Technoprobe(意大利)和MJC(日本)是前三大供應商,占據(jù)了全球市場的主要份額。美國的FormFactor是[敏感詞]的探針卡制造商,其懸臂式和垂直式探針卡在全球廣泛應用,具有極高的穩(wěn)定性。
相對而言,國內探針卡市場起步較晚,但發(fā)展迅速。蘇州的強一半導體、道格特和矽利康等公司正在逐步縮小與國際巨頭之間的差距,尤其在懸臂式探針卡領域,國內企業(yè)已經具備了與國外競爭的能力。在MEMS探針卡領域,國內企業(yè)仍需進一步技術積累,但隨著華為等龍頭企業(yè)的支持,未來國內探針卡的國產化替代空間巨大。
8. 總結
探針卡在集成電路測試中的作用至關重要。它不僅是ATE與晶圓之間的接口,也是確保芯片良率和質量的重要工具。
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