GaN 半導(dǎo)體晶體材料的基本結(jié)構(gòu)和性質(zhì),綜述了近年來(lái)采用 HVPE 法生長(zhǎng)高質(zhì)量 GaN 晶體的主要研究進(jìn)展;對(duì) GaN 的摻雜特性、摻雜劑類型、生長(zhǎng)工藝以及摻雜原子對(duì)電學(xué)性能的影響進(jìn)行了詳細(xì) 介紹
RISC-V(Reduced Instruction Set Computing Five)是一種基于精簡(jiǎn)指令集計(jì)算機(jī)(RISC)原則的開(kāi)源指令集架構(gòu)(ISA)。RISC-V最初于2010年由加州大學(xué)伯克利分校的研究人員提出,并逐漸成為開(kāi)源計(jì)算機(jī)架構(gòu)中的一股強(qiáng)大力量。RISC-V架構(gòu)的出現(xiàn)和發(fā)展,不僅推動(dòng)了開(kāi)源計(jì)算機(jī)架構(gòu)的發(fā)展,也為智能汽車(chē)行業(yè)的未來(lái)發(fā)展提供了新的可能性和方向。上海交通大學(xué)深圳行業(yè)研究院首席科學(xué)家、院長(zhǎng)助理蔣煒教授與兆芯微電子公司總經(jīng)理歐沅昊針對(duì)RISC-V框架在智能汽車(chē)領(lǐng)域的運(yùn)用進(jìn)行探討