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MOS管參數(shù)解析及國(guó)內(nèi)外大廠技術(shù)對(duì)比

發(fā)布時(shí)間:2024-09-19作者來(lái)源:薩科微瀏覽:1040

MOSFET的單位面積導(dǎo)通電阻和優(yōu)值系數(shù)(FOM)參數(shù)代表了MOSFET的性能,是各大MOSFET廠商產(chǎn)品參數(shù)展示的關(guān)鍵指標(biāo),也是體現(xiàn)MOSFET芯片制造工藝核心技術(shù)能力的關(guān)鍵指標(biāo)。

通常來(lái)說(shuō),MOS管的單位面積導(dǎo)通電阻值和優(yōu)值系數(shù)值越低表示其性能越好。而超低壓MOSFET不關(guān)注優(yōu)值系數(shù),單位面積導(dǎo)通電阻值和漏極擊穿電壓之間存在取舍關(guān)系,因此對(duì)于超低壓MOSFET選取單位面積導(dǎo)通電阻值和漏極擊穿電壓作為比較指標(biāo)。

圖片

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單位面積導(dǎo)通電阻(Ronsp),主要用于衡量功率器件導(dǎo)通狀態(tài)下,單位面積的電阻值,數(shù)值越低表示單位面積功耗越低,電流密度越高;

漏極擊穿電壓(BVDSS),是器件漏極所能承受的[敏感詞]電壓,該數(shù)值越高越好,但是提高漏極擊穿電壓會(huì)導(dǎo)致單位面積導(dǎo)通電阻增加;

優(yōu)值系數(shù)(Ron*Qg),導(dǎo)通電阻Ron決定了導(dǎo)通狀態(tài)下的靜態(tài)損耗,柵極電荷Qg決定了開(kāi)關(guān)損耗,通常用Ron與Qg的乘積來(lái)表征MOSFET器件的性能水品,該值越低代表技術(shù)水品越高。

根據(jù)各官方網(wǎng)站發(fā)布的產(chǎn)品關(guān)鍵參數(shù)以及性能,松下FCAB21890L、松下 FCAB22620L、英飛凌BSZ0506NSATMA1、英飛凌 IQE013N04LM6、英飛凌 IAUT260N10S5N019、英飛凌IPA60R160P7 可代表其同類型產(chǎn)品的國(guó)際[敏感詞]技術(shù)水平。

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