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發(fā)布時(shí)間:2024-11-27作者來源:薩科微瀏覽:586
現(xiàn)在國內(nèi)檢測(cè)設(shè)備的創(chuàng)業(yè)市場實(shí)在數(shù)太火了
本月初,我剛剛發(fā)布了一個(gè)數(shù)據(jù),統(tǒng)計(jì)了全球53家半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備的供應(yīng)商數(shù)據(jù)。這才過去兩周的時(shí)間,我這里有收集到三家供應(yīng)商信息,而且都是中國大陸的廠商 -- 基本每周增加1到2家 ...
其實(shí)這個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)門檻很高。按照之前某個(gè)行業(yè)大佬給我的指點(diǎn):
目前國內(nèi)很多缺陷檢測(cè)設(shè)備還是停留在AOI的階段,分辨率都在0.5um以上。而真正意義上的納米級(jí)檢測(cè)設(shè)備,無論是有圖形還是無圖形,一般明場的準(zhǔn)入門檻必須達(dá)到小于250nm,而暗場的門檻是小于100nm
有圖形檢測(cè)一般對(duì)標(biāo)KLA的2139(明場)和PUMA 93XX/95XX(暗場);無圖形的一般以KLA的 Surfscan為基準(zhǔn)(目前這塊國內(nèi)好像有幾家已經(jīng)做得相當(dāng)不錯(cuò),技術(shù)指標(biāo)可以達(dá)到SP3甚至S號(hào)稱對(duì)標(biāo)SP6)
目前限于能力有限,我還無法對(duì)收集到的56家供應(yīng)商(其中37家是中國大陸廠商)進(jìn)行更細(xì)致的技術(shù)分級(jí)統(tǒng)計(jì)。只能先做個(gè)相對(duì)簡單的統(tǒng)計(jì)表格供大家參考一下
大家發(fā)現(xiàn)任何問題,或者有任何建議,請(qǐng)留言和我交流。謝謝您的支持了
免責(zé)聲明:本文采摘自“半導(dǎo)體綜研”,本文僅代表作者個(gè)人觀點(diǎn),不代表薩科微及行業(yè)觀點(diǎn),只為轉(zhuǎn)載與分享,支持保護(hù)知識(shí)產(chǎn)權(quán),轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明原出處及作者,如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。
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